XRD基本原理和谱图解读快速入门
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XRD，即X射线衍射，是一种用于检测样品结构的物理分析技术。
其应用范围包括测量大晶体的原子结构和确定小晶体的组成、结晶度以及相纯度。
采用X射线的原因在于其波长与原子间距相仿，从而获得良好的衍射效果。
在XRD原理中，x射线穿过样品后，从结构中的原子上反射。衍射角度θ是关键指标，通过布拉格定律计算，即sinΘ=nλ/2d，可以得到原子平面之间的距离，从而推断出样品的成分或结构。
在XRD谱图中，x轴代表2θ大小，反映了晶体或原子间距；y轴表示峰高，反映的是特定相或间隔的分子数量。峰越高，表明该部分的分子数量越多。
峰宽则揭示光谱测量的不确定度，宽度与晶体大小成反比。更宽的峰可能意味着晶体较小、结构缺陷或样品非晶。
通过将XRD谱图与文献谱图对比，分析峰位置、峰高与峰宽，可以确定未知化合物的结构。
