专利名称：一种用于氢同位素气体分析的四极质谱进样系统专利类型：发明专利
发明人：何康昊,姜飞,王泽骥,张志,陈闽,安永涛,陈克琳,罗军
洪,蔡金光
申请号：CN201910664336.0申请日：20190723公开号：CN110444464A公开日：20191112
摘要：本发明公开了一种用于氢同位素气体分析的四极质谱进样系统，包括四极质谱仪以及与四极质谱仪相连并用于引入离子源的进样系统，所述进样系统包括沿着气体流动方向通过管线依次连接的第一进气口、第一截止阀、第二截止阀、第五截止阀、第一缓冲瓶、第六截止阀、以及设置于所述四极质谱仪上的第一进样阀，并配设相应的惰性气体清洗系统以及分级降压系统。本发明高压样品通过第一进气口进气，并通过第一截止阀和第二截止阀之间的管道进行气源截取，再通过第一缓冲瓶减压后引入离子源，可实现对进样压力的精确调控，提高了同位素分析的精确度。
申请人：中国工程物理研究院材料研究所
地址：610200四川省成都市双流区银河路596号
国籍：CN
代理机构：成都众恒智合专利代理事务所(普通合伙)
代理人：钟显毅
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